微奈米科技研究中心 Center for Micro/Nano Science and Technology, CMNST

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微奈米中心
最後更新日期   
2017-07-28
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2017半導體故障分析技術研討會

2017半導體故障分析技術研討會

在奈米製程無塵室製備樣品時,手動切割常造成樣品的污染。如何降低無塵室樣品製備的汙染,在半導體故障分析技術中,是一重要、須解決之課題。本次技術研討會將邀請在半導體的故障分析領域超過20年經驗,且連續六年擔任ISTFA (國際測試和故障分析研討會)主席的Efrat Moyal女士分享在半導體故障分析領域的新技術,另外本中心的技術長亦會發表中心在半導體製程和半導體檢測分析的最新研發成果,歡迎各界先進蒞臨,踴躍報名參加。

指導單位:科技部產學及園區業務司

主辦單位:國立成功大學微奈米科技研究中心、微奈米製程與檢測產學技術合作聯盟、偉技股份有限公司(V-TEK Co., Ltd.)

研討會時間:2017年8月24日(星期四)13:30 - 17:00

研討會地點:國立成功大學微奈米科技研究中心9064會議室(位置圖

聯絡人:翁小姐  (06)2757575 ext.31380#219 

報名方式:免費報名。請填寫下方報名表

報名網址:https://goo.gl/PpMcWU

時間

議程

演講者

13:30~14:00

報到

14:00~14:10

開幕致詞

成大微奈米科技研究中心
陳引幹主任

14:10~14:40

無塵室樣品製備的汙染最新解決方案
The Solution of Contamination from Sample Preparation in Cleanroom (Abstract)

Founder, LatticeGear
Efrat Moyal (CV

14:40~15:10

樣品製備工具展示
Sample Preparation Tool Demostration

Founder, LatticeGear
Efrat Moyal

15:10~15:30

茶敘

15:30~15:50

微奈米中心半導體製程最新發展(暫訂)

成大微奈米科技研究中心
鍾崇仁技術長(CV

15:50~16:10

微奈米中心半導體檢測分析(暫訂)

成大微奈米科技研究中心
謝伯宗技術長(CV

16:10~17:00

問題與討論、微奈米中心實驗室參觀

17:00~

賦歸

 

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活動花絮
蘇校長6/30率陳副校長、儀設中心吳主任及研發處一行五人訪視本中心,討論配合校務發展,中心未來發展方向。
除設展攤外,陳引幹主任受邀擔任「微奈米與智慧科技對失智症的照護」場次主持人,技術推廣組長吳佳慶教授受邀發表「微奈米科技在失智症的研究與研發」之演講。
美國喬治亞理工學院Dr. Christine K. Payne (School of Chemistry and Biochemistry, Georgia Institute of Technology, USA) 參訪本中心。

2016液態奈米影像展

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